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| Robert J. Hocken | |
Robert J. Hocken, catedrático de la Universidad de Carolina del Norte en Charlotte (UNC Charlotte) y director del Centro de Metrología de Precisión (Center for Precision Metrology) impartirá este martes, 19 de febrero, la conferencia “Ingeniería en nanotecnología en la UNC Charlotte”.
La conferencia está organizada por el Grupo de Ingeniería de Fabricación y Metrología Avanzada (GIFMA) del Instituto de Investigación en Ingeniería de Aragón (I3A) y tendrá lugar a las 12:30 horas en el Anfiteatro A del Edificio Torres Quevedo (Centro Politécnico Superior, Universidad de Zaragoza).
La conferencia, que se impartirá en inglés, se centrará en la presentación de la labor investigadora del Centro de Precisión Metrológica de la UNC Charlotte en el campo de la ingeniería en nanotecnología. La nanotecnología puede definirse como el estudio, desarrollo y procesamiento de materiales, aparatos y sistemas con estructuras menores de 100 nanómetros para poder obtener las prestaciones funcionales requeridas. Actualmente, existen dos enfoques muy distintos a la nanotecnología; la ingeniería en nanotecnología y la nanotecnología molecular. La ingeniería en nanotecnología implica el uso de los clásicos principios determinísticos de ingeniería mecánica y eléctrica para construir estructuras con valores de tolerancia acercándose al nivel nanométrico. Por otro lado, la nanotecnología molecular se centra entre otros temas, en el auto-ensamblaje de máquinas.
El Centro de Metrología de Precisión de la UNC Charlotte ha trabajado durante más de diez años en la ingeniería en nanotecnología. A finales de los años ochenta, comenzaron con la manipulación molecular con los microscopios de sonda de barrido y continuaron desarrollando nuevos sistemas de medición, sistemas de nano-mecanizado y dispositivos de nano-posicionamiento. Uno de los mayores retos en este campo es el control preciso de los movimientos de plataformas macroscópicas.
Actualmente, el Centro de Metrología de Precisión de la UNCC está desarrollando o modificando tres de estas plataformas. La primera es la Máquina de Medición Subatómica (Sub Atomic Measuring Machine, SAMM) que está siendo modificada para proporcionar resolución picométrica; la segunda es el Sistema de Posicionamiento y Alineación Multi-Escala (Multi-Scale Alignment and Positioning System, MAPS) pensada para ser utilizada en nano-impresión; la tercera es una Plataforma de Vacío de Ultra-Precisión (Ultra-Precision Vacuum Stage), que se encuentra casi completamente desarrollada. Durante la conferencia, se presentarán los dos primeros sistemas.
El Profesor Robert J. Hocken es una referencia mundial en el ámbito de la ingeniería de fabricación y especialmente en el de la metrología dimensional. Ha ocupado cargos de dirección durante 15 años en el Instituto Nacional para Estandarización y Tecnología (National Institute of Standards and Technology, NIST) y ha recibido numerosos premios y distinciones, entre otros ASME Ennor Manufacturing Technology Award en 2001; ASPE Lifetime Achievement Award en 2000 o F.W Taylor International Research Award, Society for Manufacturing Engineers en 1985.
